ОСОБЕННОСТИ ПРИМЕНЕНИЯ МЕТОДОВ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОГО РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ПРИ ИССЛЕДОВАНИИ РАДИОАКТИВНЫХ МАТЕРИАЛОВ
Методы сканирующей электронной микроскопии и электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа широко используют для послереакторных исследований материалов ядерных реакторов. Представлен вариант адаптации сканирующего электронного микроскопа для размещения и работы в радиационно-защитной камере и описаны методические особенности применения методов сканирующей электронной микроскопии и электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа для исследования радиоактивных материалов.
Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия; электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ; адаптация; дистанционное обслуживание.
FEATURES OF APPLICATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ELECTRON PROBE X-RAY SPECTRAL MICROANALYSIS TO EXAMINE RADIOACTIVE MATERIALS
© V.V. Yakovlev, S.V. Kuzmin, Ilnur F. Gilmutdinov, O.N. Nikitin (e-mail: bri@niiar.ru)
Scanning electron microscopy and electron-probe X-ray spectral microanalysis are widely used for post-irradiation examinations of nuclear reactors materials. Presented is an option of adapting a scanning electron microscope for placement and operation in a hot cell. Described are the methodological features of the application of scanning electron microscopy and electron probe X-ray spectral microanalysis to examine radioactive materials.
Key words: scanning electron microscopy; electron-probe X-ray spectral microanalysis; adaptation; remote handling.
Все права защищены. Использование материалов сайта без ссылки на источник запрещено © 2008-2023
АО «ГНЦ НИИАР» 433510, Ульяновская область, г. Димитровград, Западное шоссе, д. 9.
E-mail: niiar@niiar.ru. Тел.: 8 (84235) 9-83-83. Факс: 8 (84235) 9-83-84